Industyjo produktu
Urzōndzynie inspekcyje pōłprzewodnika MPC to połni autōmatyczny systym usuwanio kerōnkowego suchego pyłu do czujnikōw ôbrazōw CMOS. Je ôn wyposażōny we wysoko- the kamera, co może zidyntyfikować cudzyj materyje ultrafinerowyj tajleczek i skerować mechanizm stłumiynio pyłu, coby wykōnać wysoko-}przedncyjo wychrōniynie kerunkowego wychrōniynio pyłu. Może to usuniynć cudze materyjo srogszo ôd 700 nm na podłożu/Synsor. Maszina je wyposażōno we modułu serwo powierzchniowego. Sztele jednolite/podwōjne mogōm być ôbrane zgodnie ze mocōm produkcyjōm. Maksymalno pojymność produkcyjno je srogszo ôd 5000pcs/h. Może wyjść zgłoszenie i wygynerować diagramy MAP. W tym samym czasie dane mogōm być przesyłane do systymu MES klienta.
Funkcyje produktu
Czynściowo wykrywanie i Klarowowanie, wykrywanie DB
Dostympność produkty
Bazowo : (36pcs/Tray, 10% Dust Strōna)
Single Station: >2500pcs/h; Double Station: >5000pcs/h
MPC Micron Particle System System System (dlo sensorōw Image CMOS) autōmatycznie sprawdzo i akuratnie idyntyfikuje
Smokowanie, Residuue -Free, Brak kōntaminacyje
Urzōndzynie inspekcyjne semiconduktor Proces Inspekcyjo
ście
● Semiconduktōr (mimoulka aptyczno, Wafer)
● Industryjo pakowanio semiconduktora i testowanio (Synsor, IR Filter, testy IC, moduł ôdcisku palcōw)
Urzōndzynie inspekcyje pōłprzewodnika MPC może znaczōnco poprawić wydajność produkcyje i wydajność, zastympować tradycyjne manualne prōbkowanie i je ôsobliwie ôdpowiednio do produkcyje partije ô wysokij wartości{{0} produktu zbliżynia. Jeźli potrzebujesz barzij wydajnego rozwiōnzanio, proszōm, skonsultuj sie z Huiizhou Zhongke Zaawansowany Manufacuring Co., Ltd.
Niymaciele Tag: urzōndzynie do inspekcyjnego inspekcyje pōłprzewodnika, producynci sprzętu inspekcyje pōłprzewodnikōw, dostowcōw, fabryk
Parametry techniczne
● Detection Accuracy: >0.6μm
● Floating Dust Removal Rate: >99.9%
Specyfikacyjo produktu
|
Zewnyntrzno Srogość |
W1200mm*D1100mm*H1850mm |
|
Woga |
1000Kg; 1000Kg; |
